X射线衍射仪（XRD）
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28/人使用者
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202/次机时次数
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1462.74/小时总时长
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0/次送样次数
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61/人收藏者
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收费标准
机时400元/小时 -
设备型号
SmartLab -
当前状态
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管理员
戴红彬,张娟 -
放置地点
C区209
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
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名称
X射线衍射仪（XRD）
资产编号
2025000900
型号
SmartLab
规格
产地
日本
厂家
理学
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
公共科研平台理化平台
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
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联系电话
联系邮箱
hbdai@eitech.edu.cn
放置地点
C区209
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
主要规格&技术指标
X 射线发生器：旋转阳极 Cu 靶；
最大输出功率 9kW；管电压 20–60kV，管电流 10–200mA；
2θ 扫描范围 0.5°~150°；
搭载 CBO 交叉光束光学系统，可自动切换聚焦光路 / 平行光路；
可搭配变温（30-1500℃）、薄膜 XRR 等多种附件
最大输出功率 9kW；管电压 20–60kV，管电流 10–200mA；
2θ 扫描范围 0.5°~150°；
搭载 CBO 交叉光束光学系统，可自动切换聚焦光路 / 平行光路；
可搭配变温（30-1500℃）、薄膜 XRR 等多种附件
主要功能及特色
固体材料物相定性 / 定量分析；
薄膜样品高分辨 XRD、XRR 反射率、摇摆曲线；
材料织构、残余应力测试；
小角散射 SAXS；
可开展高低温、电化学、电池充放电等原位动态晶体结构演变测试；
适用于无机粉体、金属、薄膜、陶瓷、高分子、矿物等材料，服务材料、化学、地质、环境等方向科研测试
薄膜样品高分辨 XRD、XRR 反射率、摇摆曲线；
材料织构、残余应力测试；
小角散射 SAXS；
可开展高低温、电化学、电池充放电等原位动态晶体结构演变测试；
适用于无机粉体、金属、薄膜、陶瓷、高分子、矿物等材料，服务材料、化学、地质、环境等方向科研测试
样本检测注意事项
粉末样品：需研磨至 360 目，手触无颗粒感，样品量≥0.2g，无挥发性、无强磁性、无放射性、无强腐蚀性组分；
块状 / 薄膜样品：待测表面平整，样品高度≤10mm，测试区域尺寸≥10mm×10mm，样品稳固不掉屑；
禁止测试易燃易爆、剧毒、强腐蚀、液态、易挥发样品
块状 / 薄膜样品：待测表面平整，样品高度≤10mm，测试区域尺寸≥10mm×10mm，样品稳固不掉屑；
禁止测试易燃易爆、剧毒、强腐蚀、液态、易挥发样品
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